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用标准散射体绝对校正地面散射计

姚传亮,朱为中,俞顺弟,许赛卿   

  1. 上海电子物理研究所 ,上海电子物理研究所 ,上海电子物理研究所 ,上海电子物理研究所
  • 发布日期:1983-08-25

  • Published:1983-08-25

摘要: <正> 一、引言在用微波散射计测量目标散射系数σ°时,所测得的数据不仅取决于目标的反向散射特性、而且也与散射计系统的某些参数有关,如机内馈线损耗、接收机增益及带宽、天线波束宽度及增益、调频信号的频谱等参数的不确知或任一改变都会对σ°的测试值带来误差。为准确获得σ°值,就必须对散射计进行校正。校正手段有二种:相对校正(机内校正)和绝对校正(实测校正)。用延迟线进行的机内校正可以消除系统某些参数的慢变化所引起的测试误