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空间辐射粒子引起单粒子翻转率预计

于庆奎,赵大鹏,唐民   

  1. 北京卫星环境工程研究所
  • 发布日期:1998-12-25

PREDICTION OF SINGLE EVENT UPSET(SEU) RATES INDUCED BY HEAVY IONS

Yu Qingkui Zhao Dapeng Tang Ming (Beijing Institute of Satellite Environment Engineering,Beijing 100029)   

  • Published:1998-12-25

摘要: 空间辐射粒子引起单粒子翻转(SEU)率预计的基础是地面粒子加速器模拟试验数据、卫星轨道的粒子辐射环境模型和高能粒子与器件相互作用模型。引起SEU的空间辐射粒子包括银河宇宙射线、太阳宇宙射线和地磁俘获粒子。高能粒子通过电离产生多余电子-空穴对引起SEU。介绍了计算轨道中SEU率的程序CREME。以80C31微控制器为例,根据串列静电加速器地面模拟试验结果,进行了在轨SEU率预计。

关键词: 辐射干扰, 微电子学, 空间环境, 研究

Abstract: This paper presents the space radiation environment model of heavy ions and gives the method to calculate the SEU rates of ICs on orbit.SEU rates of a 80C31 microcontroller on board satellites in three different orbits are predicted on the basis of the experimental results utilizing Tandem Van De Graff accelerator.