摘要： 本文强调卫星电子设备的可靠性评定应从元器件失效率为出发点,结合整机和系统各级现场试验数据进行。失效率的信息或由元件厂直接提供,或由经验估计法得到。本文选取失效率验前分布密度Γ(α,β),α、β>0,运用贝叶斯方法和配矩技术给出整机和串并联系统可靠性置给下限的近似解。在级间信息折合顺序上提出新看法,并举例说明各公式的用法。本文对卫星和其它长寿命电子设备的可靠性评定或预测有一定参考作用。