中国空间科学技术 ›› 2014, Vol. 34 ›› Issue (4): 72-.doi: 10.3780/j.issn.1000.758X.2014.04.011
王祖军, 罗通顶, 杨少华, 刘敏波, 盛江坤
WANG Zu-Jun, LUO Tong-Ding, YANG Shao-Hua, LIU Min-Bo, SHENG Jiang-Kun
摘要: 针对电荷耦合器件(CCD)〖BFQ〗在空间轨道环境中应用时易受到辐射损伤的影响,对面阵CCD的电离辐照损伤效应问题进行了试验研究。首先,通过开展面阵CCD60Coγ射线电离辐照效应试验,在暗场条件下测试了面阵CCD辐照后输出信号随积分时间的变化,并拟合计算出暗信号斜率。然后,对比分析了不同偏置条件下辐照后暗信号退化的试验规律;分析了不同偏置条件下辐照后暗信号的退火恢复情况;分析了不同积分时间、不同总剂量下的暗信号不均匀性的变化规律。最后,阐述了电离辐照损伤诱发面阵CCD暗信号增大的物理机制。结果表明:面阵CCD对电离辐照损伤很敏感,在进行航天器成像系统设计时,要充分考虑CCD受电离辐照损伤带来的影响。