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邵新杰,张建斌,王广振
Shao Xinjie (Ordnance Engineering College, Shi Jiazhuang 050003) Zhang Jianbin (Beijing University of Aeronautics & Astronautics, Beijing 100083) Wang Guangzhen (Tsinghua University, Beijing 100084)$$$$
摘要: 运用地面模拟设备对硅橡胶材料O形圈进行了原子氧暴露、紫外线辐射实验研究 ;利用测压法进行了O形圈在原子氧暴露及紫外线辐射前后的泄漏率比对实验 ,并对实验前后O形圈进行了扫描电镜分析。实验表明 :原子氧和紫外线辐射对O形圈的表面状况及泄漏率均有明显影响