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半导体器件单粒子效应的机理、试验和预计
孟庆茹,赵大鹏,鲍百容
MECHANISM TEST AND PREDICTION OF EFFECTS OF SINGLE EVENT ON SEMICONDUCTOR DEVICE
Meng Qingru Zhao Dapeng Bao Bairong (Beijing Institute of Satellite Environment Engineering)
中国空间科学技术 . 1993, (
04
): null -null .